Location of Repository

Методы сканирующей зондовой микроскопии в микро- и наномеханике

By С. А. Чижик and С. В. Сыроежкин

Abstract

В работе представлены методы оценки локальных физико-механических свойств материалов в наномасштабе, реализованных на базе сканирующего зондового микроскопа: картографические поверхности с помощью изображений контраста; статическая и динамическая силовая спектроскопия, процедуры наноизнашивания, осциллирующая микротрибология

Publisher: Белорусский национальный технический университет
Year: 2010
OAI identifier: oai:rep.bntu.by:data/1852

Suggested articles

Preview


To submit an update or takedown request for this paper, please submit an Update/Correction/Removal Request.