Effect of aluminium alloy surface heterogeneities on anodic layer growth and properties

Abstract

14 páginas, 12 figuras, 6 tablas.[ES] En el presente trabajo se estudian, mediante el análisis XPS (espectroscopia fotoelectrónica de rayos-X), los recubrimientos de anodizado, sellados y sin sellar, obtenidos sobre Al-puro y aleaciones de Al-Cu, Al-Mg-Si y Al-Mg. En general, se observa un aumento significativo en las relaciones O/Al en el recubrimiento como resultado del proceso de sellado. En el caso de las aleaciones de Al-Cu y Al-Mg, se ha observado también un significativo aumento de la relación O/Al respecto al Al-puro y la aleación Al-Mg-Si, que puede estar asociado a una mayor porosidad de los recubrimientos obtenidos sobre las primeras. Se ha intentado así mismo establecer posibles relaciones entre las características de las capas anódicas y las heterogeneidades superficiales que también han actuado en la fase previa al anodizado. Según los resultados de este trabajo, estas mismas heterogeneidades afectan el grado de disolución del substrato metálico durante la operación de anodizado.[EN] In the present work, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is used to study sealed and unsealed anodic coatings obtained on pure-Al and on Al-Cu, Al-Mg-Si and Al-Mg alloys. In general, the sealing process is seen to produce a significant increase in the O/Al ratio in the anodic coatings. This increase is more considerable with the Al-Cu and Al-Mg alloys than with the pure Al and the Al-Mg-Si alloy, perhaps due to the greater porosity of the coatings obtained on the former. An attempt is made to establish possible relationships between anodic film characteristics and surface heterogeneities, which also act in the phase prior to anodising. According to the results of this work, these heterogeneities affect the degree of dissolution of the metallic substrate during the anodising operation.Esta investigación ha sido financiada por la Comisión Interministerial de Ciencia y Tecnología (CICYT) de España, en el marco del Proyecto MAT 2003- 02217.Peer reviewe