Caractérisation structurale des contacts ohmiques réalisés à partir d\u27encres métalliques sur cellules photovoltaïques en silicium multicristallin

Abstract

Ce travail a pour but l\u27étude des contacts ohmiques réalisés, à partir d\u27encres métalliques, par sérigraphie sur les cellules solaires en silicium multicristallin. Cette étude a porté sur les contacts dans leur volume mais également sur l\u27interface qu\u27ils créent avec le silicium. Le cur de l\u27étude est une caractérisation structurale des contacts avants et arrières par microscopie électrique en transmission entre chaque étape de leur processus industriel d\u27élaboration. Cette première partie a permis de mettre en évidence une incompatibilité entre la pâte de la face avant et le traitement appliqué. Un second travail a consisté en l\u27étude de la faisabilité d\u27une reprise de soudure en surface des contacts par dépôt électroless. Les résultats énoncés ont été obtenus avec des solutions de cuivre et de nickel. En dernier lieu, nous avons étudié la formation d\u27un champ arrière en fonction de la composition de la pâte déposée et du traitement thermique appliqué. L\u27objectif est de diminuer les recombinaisons des porteurs minoritaires dans le cas de la réduction d\u27épaisseur du semi-conducteur