Vanadium Bisimide Bonding Investigated by X-ray Crystallography, 51
- Authors
- Abadie J.
- Abbate M.
- Abbate M.
- Albright T. A.
- Andersen R. A.
- Blake R. E.
- Bluhm H.
- Bolton P. D.
- Brackemeyer T.
- Bradley J. A.
- Brik M. G.
- Brintzinger H. H.
- Casarin M.
- Chan D. M. T.
- Chan D. M. T.
- Chao Y. W.
- Chen J. G.
- Chong A. O.
- Ciszewski J. T.
- Cloke F. G. N.
- Collison D.
- Collison D.
- Cummins C. C.
- Cummins C. C.
- Cummins C. C.
- Danopoulos A. A.
- Danopoulos A. A.
- David K. Shuh
- De Francesco R.
- de Groot F.
- Degroot F. M. F.
- Devore D. D.
- Dewith J.
- Dewith J.
- Dewith J.
- F. Dean Toste
- Fagin A. A.
- Fronzoni G.
- George S. D.
- Gerber L. C. H.
- Gerlach C. P.
- Gianetti T. L.
- Gianetti T. L.
- Goering E.
- Goering E.
- Grigg J.
- Havecker M.
- Hawkeswood S. B.
- Hellmann I.
- Henry S. La Pierre
- Hursthouse M. B.
- Ignatov S. K.
- Ignatov S. K.
- Immirzi A.
- John Arnold
- Kennedy-Smith J. J.
- Khalimon A. Y.
- Khalimon A. Y.
- Khalimon A. Y.
- Khalimon A. Y.
- Kilgore U. J.
- Kozimor S. A.
- Kozimor S. A.
- Krossing I.
- La Pierre H. S.
- La Pierre H. S.
- Lam H. W.
- Landis C. R.
- Lauher J. W.
- Leung W. H.
- Luetkens M. L.
- Ma C.
- Mark Abubekerov
- Meek S. J.
- Meijboom N.
- Milsmann C.
- Minasian S. G.
- Mountford P.
- Mountford P.
- Nikonov G. I.
- Nolin K. A.
- Nolin K. A.
- Nugent W. A.
- Nugent W. A.
- Nugent W. A.
- Nugent W. A.
- Nugent W. A.
- Parkin G.
- Patridge C. J.
- Polse J. L.
- Preuss F.
- Preuss F.
- Preuss F.
- Rehder D.
- Rehder D.
- Robert G. Bergman
- Sawatzky G. A.
- Schafer D. F.
- Schaller C. P.
- Schofield A. D.
- Schofield M. H.
- Schwarz A. D.
- Schwarz A. D.
- Schwarz A. D.
- Solomon E. I.
- Solomon E. I.
- Spencer L. P.
- Stefan G. Minasian
- Stosh A. Kozimor
- Su D. S.
- Sullivan A. C.
- Sweeney Z. K.
- Sweeney Z. K.
- Tolek Tyliszczak
- Tolman C. A.
- Tomson N. C.
- Tomson N. C.
- Tomson N. C.
- Tomson N. C.
- Toste F. D.
- Tsai Y.
- Vanderlaan G.
- Walsh P. J.
- Walter M. D.
- Wen A. T.
- Wigley D. E.
- Williams D. S.
- Williams D. S.
- Williams D. S.
- Williams D. S.
- Woll C.
- Zhang G. P.
- Zhang G. P.
- Publication date
- Publisher
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Doi