Los procesos de alta calidad se basan en una baja tasa de productos no conformes. Tradicionalmente el monitoreo de los procesos se realiza a través de los gráficos tradicionales de Shewhart (3-sigma), basados en la aproximación normal. Pero este tipo de gráfico no es exacto cuando la tasa de defectos p es muy pequeña.
En la presente tesis se realiza una comparación entre los gráficos tradicionales de Shewhart con otros tipos basados en la corrección de los límites de control y con otros basados en la suma acumulada de conformidades que se miden en partes por millón (ppm). Estos gráficos para procesos de alta calidad tienen la ventaja de ser más sensibles ante la tasa de defectos de baja.Fil: Fürth, Patricia Alejandra Carolina von. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas; Argentin
