DEPFET pixel detector in the Belle II experiment

Abudinen, F.; Ackermann, K.; Ahlburg, P.; Albalawi, M.; Alonso, O.; Andricek, L.; Ayad, R.; Babu, V.; Bai, Y.; Belle-II DEPFET, PXD; Bilka, T.; Blanco, R.; Boronat, M.; Bozek, A.; Caldwell, A.; Camien, C.; Chekelian, V.; Deschamps, B.; Dieguez, A.; Dingfelder, J.; Doležal, Z.; Esperante, D.; Fras, M.; Frey, A.; Fuster, J.; Gabriel, M.; Gadow, K.; Gebauer, U.; Germic, L.; Gessler, T.; Getzkow, D.; Gioi, L.; Gomis, P.; Heck, M.; Hemperek, T.; Hensel, M.; Hoek, M.; Kandra, J.; Kapusta, P.; Kiesling, C.; Kisielewski, B.; Kittlinger, D.; Klose, D.; Kodyš, P.; Koffmane, C.; Konorov, I.; Krivokuca, S.; Krüger, H.; Kuhr, T.; Kvasnička, P.; Kühn, W.; Lacasta, C.; Lange, J. S.; Lautenbach, K.; Leis, U.; Leitl, P.; Levit, D.; Liemann, G.; Liu, Z.; Lütticke, F.; Macharski, L.; Mariñas, C.; Mccarney, S.; Moser, H. G.; Moya, D.; Mueller, F. J.; Müller, Felix Johannes; Münchow, D.; Niebuhr, C.; Ninkovic, J.; Packheiser, U.; Paschen, B.; Paul, S.; Peric, I.; Poblotzki, F.; Rabusov, A.; Reiter, S. P.; Richter, R.; Ritter, M.; Ritzert, M.; Rummel, S.; Sanchez, J. G.; Scavino, B.; Schaller, G.; Schnecke, M.; Schopper, F.; Schreeck, H.; Schwenker, B.; Sedlmeyer, R.; Sfienti, C.; Simon, F.; Skambraks, S.; Soloviev, Y.; Spruck, B.; Stever, R.; Stolzenberg, U.; Tafelmayer, E.; Takahashi, M.; Vila, I.; Virto, A. L.; Vogt, S.; Vos, M.; Wang, C.; Wermes, N.; Wessel, C.; Wieduwilt, P.; Windel, H.; Ye, H.; Zhao, J.

DEPFET pixel detector in the Belle II experiment

Authors: F. Abudinen
K. Ackermann
P. Ahlburg
M. Albalawi
O. Alonso
L. Andricek
R. Ayad
V. Babu
Y. Bai
PXD Belle-II DEPFET
T. Bilka
R. Blanco
M. Boronat
A. Bozek
A. Caldwell
C. Camien
V. Chekelian
B. Deschamps
A. Dieguez
J. Dingfelder
Z. Doležal
D. Esperante
M. Fras
A. Frey
J. Fuster
M. Gabriel
K. Gadow
U. Gebauer
L. Germic
T. Gessler
D. Getzkow
L. Gioi
P. Gomis
M. Heck
T. Hemperek
M. Hensel
M. Hoek
J. Kandra
P. Kapusta
C. Kiesling
B. Kisielewski
D. Kittlinger
D. Klose
P. Kodyš
C. Koffmane
I. Konorov
S. Krivokuca
H. Krüger
T. Kuhr
P. Kvasnička
W. Kühn
C. Lacasta
J. S. Lange
K. Lautenbach
U. Leis
P. Leitl
D. Levit
G. Liemann
Z. Liu
F. Lütticke
L. Macharski
C. Mariñas
S. Mccarney
H. G. Moser
D. Moya
F. J. Mueller
Felix Johannes Müller
D. Münchow
C. Niebuhr
J. Ninkovic
U. Packheiser
B. Paschen
S. Paul
I. Peric
F. Poblotzki
A. Rabusov
S. P. Reiter
R. Richter
M. Ritter
M. Ritzert
S. Rummel
J. G. Sanchez
B. Scavino
G. Schaller
M. Schnecke
F. Schopper
H. Schreeck
B. Schwenker
R. Sedlmeyer
C. Sfienti
F. Simon
S. Skambraks
Y. Soloviev
B. Spruck
R. Stever
U. Stolzenberg
E. Tafelmayer
M. Takahashi
I. Vila
A. L. Virto
S. Vogt
M. Vos
C. Wang
N. Wermes
C. Wessel
P. Wieduwilt
H. Windel
H. Ye
J. Zhao
Publication date: 1 January 2019
Publisher: 'Elsevier BV'
Doi

Abstract

The Belle II experiment will run with a reduced beam asymmetry and a factor of 40 higher instantaneous luminosity compared to the Belle experiment. To cope with this and to be able to perform high precision vertex measurements for charge conjugation parity violating processes, a pixel detector based on DEPFET technology will be installed in the center of Belle II. Its basic properties and the DAQ chain are presented in this article

Similar works

Full text

Available Versions

DESY

oai:bib-pubdb1.desy.de:434659

Last time updated on 12/04/2020