Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos

Authors
Publication date
28 July 2018
Publisher
[s.n.]

Abstract

Orientador: Vitor BaranauskasTese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de ComputaçãoDoutorad

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