Investigation of the Plasticity of InP as a Function of Temperature

Abstract

Compression tests at constant strain rate were performed on $< 001 >$ oriented single crystals of undoped indium phosphide, in the temperature range 300 $^{\circ}$C (0.43 Tm) to 700 $^{\circ}$C (0.72 Tm). Critical resolved shear stresses are compared with those reported in the literature. Scanning electron microscopy in the cathodoluminescence mode and transmission electron microscopy were used to investigate the deformed sample microstructure. No microtwinning was observed.Des échantillons de phosphure d'indium monocristallin non dopé ont été déformés par compression uniaxiale suivant une direction $< 001 >$ à vitesse de déformation constante sur une gamme de températures allant de 300 $^{\circ}$C (0,43 Tf) à 700 $^{\circ}$C (0,72 Tf). Les cissions à la limite élastique déterminées sont comparées avec celles rapportées dans la littérature. La microscopie électronique à balayage en mode cathodoluminescent, ainsi que la microscopie électronique en transmission ont été utilisées pour étudier la microstructure des échantillons déformés. Dans aucun cas du micromaclage n'a été observé