Du tellure non cristallin a été préparé par déposition d'un faisceau moléculaire sur un substrat de mylar maintenu à 80K. La structure amorphe est fortement influencée par l'épaisseur de l'échantillon. Des échantillons minces (≤ 105Å) ont été chauffés à partir de 80K à une vitesse de ~15K/jour. A 245K on observe une diminution brusque de l'intensité de diffusion Rayleigh élastique. Ceci correspond à une augmentation de l'amplitude moyenne de vibration atomique √<x2> qui passe de ~0.15Å à ~0.32Å. Après avoir maintenu l'échantillon pendant 10 heures aux alentours de 245K, on retrouve la valeur initiale de √<x2>. Les spectres de RX montrent que cette variation de √<x2> est liée à un réarrangement structural. Dans le même intervalle de température, des échantillons épais cristallisent et ne présentent que de faibles anomalies de √<x2>.Non-crystalline Te was prepared by deposition from a molecular beam onto a mylar substrate kept at 80K. The amorphous structure is strongly influenced by sample thickness. Thin samples (≤ 105Å) were heated from 80K at a rate of ~15K/day. At 245K a sudden decrease in the intensity of elastic Rayleigh scattering was observed. This corresponds to an increase in the mean atomic vibration amplitude √<x2> from ~0.15Å to ~0.32Å. After keeping the samples for ten hours near 245K the initial value of √<x2> was recovered. The X-ray pattern of the sample show that this change in √<x2> is connected with a structural re-arrangement. In the same temperature range thick samples undergo crystallization where anomalies in √<x2> are only weakly present
