IMAGING GAS ADSORPTION IN THE FIELD ION MICROSCOPE : DEPENDENCE IN TIP FIELD STRENGTH AND TIP TEMPERATURE

Abstract

Les conditions pour la formation d'une couche de gaz "imageant" adsorbé sur la surface d'un échantillon au Microscope Ionique de Champ sont recherchées en utilisant un simple modèle théorique pour le mouvement des molécules du gaz. On conclue, alors, que la formation de cette couche n'est possible que pour une certaine gamme de valeurs d'intensité du champ et de température.The conditions for an imaging gas adsorbed layer in the Field Ion Microscope to be formed are investigated using a simple theoretical model for the imaging gas hopping motion. It is concluded that such a layer is formed just for a certain range of tip field (or voltage) values and tip temperatures

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