Henes Neto, Egas

Kastensmidt, Fernanda Lima

Vieira, Michele

Lume 5.8

Engenharias   322 DETECÇÃO DE FALHAS TRANSIENTES EM CIRCUITOS COMBINACIONAIS E SEQÜENCIAIS USANDO “BULK BUILT-IN CURRENT SENSOR”. Egas Henes Neto, Ivandro Ribeiro, Michele Vieira, Fernanda Lima Kastensmidt, Gilson Wirth (orient.) (UERGS). Falhas transientes (Soft Errors) são falhas que ocorrem em circuitos integrados (CIs) devido à partículas oriundas da radiação externa. Estas falhas podem ocorrer em circuitos seqüenciais ou combinacionais. Quando a radiação atinge células seqüenciais, este fenômeno chamado de Single Event Upset (SEU), o resultado pode ser a inversão do valor armazenado em tais células. Para células combinacionais ao serem atingidas pela radiação, este incidente chamado de Single Event Transient (SET), um pulso transiente de tensão é gerado e este pode se propagar até elementos de memória, presentes nas saídas destas células combinacionais, e ser armazenado nestes elementos de memória produzindo um Soft Error. Neste trabalho, nós propomos um novo método para o uso de Built-in Current Sensor (BICS) para detectar SEUs e SETs. Neste método, o BICS é conectado nos terminais bulk dos dispositivos do CI (Bulk-BICS) para aumentar sua sensibilidade e não mais conectado na alimentação (power lines) dos dispositivos conforme a maioria dos trabalhos publicados. O método proposto é validado através de simulações feitas no simulador elétrico SPICE em tecnologia CMOS 100nm. Este método tem duas grandes vantagens. A primeira é que possibilita o uso de BICS para circuitos combinacionais, uma vez que o Bulk-BICS distingue os sinais gerados pelos SETs dos sinais gerados pela operação normal do circuito. A segunda vantagem é que o seu efeito é mínimo no desempenho do circuito e o consumo de potência do circuito conectado ao BICS é muito menor para o Bulk-BICS do que para o BICS conectado nos power lines. Além disso, nós propomos um BICS que é capaz de informar se a falha transiente ocorreu em transistores NMOS ou PMOS, o que pode gerar uma avaliação mais precisa da região atingida. (Fapergs).  285 

Detecção de falhas transientes em circuitos combinacionais e seqüenciais usando “bulk built-in current sensor”

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