一种数字电路系统的测试方法A

Abstract

本发明提供一种数字电路系统的测试方法,通过加电前的电源接口阻抗测试,加电后的电压正确性测试、锁相环模块时钟测试、DDS准确度与同源稳定度测试、AD/DA通路性能测试,依次对数字电路系统中协作的模块进行测试,可以保证数字电路系统中主要模块的功能及性能得到全面的测试,可以有效地评估数字电路系统的相应指标,能够最快速度得到测试结果,可靠性高

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