Kharkiv national Air Force University named after I. Kozhedub
Abstract
Предложен метод статистического анализа технологических процессов производства изделий радиоэлектронного приборостроения на основе вычисления параметров контрольных карт с помощью помехоустойчивой кластеризации с использованием вейвлет-преобразования. Такой подход позволяет при автоматизированном контроле технологического процесса повысить качество кластеризации в условиях априорной неопределенности, обусловленной отсутствием информации о форме кластеров в случае зашумленных малых наборов данных измерений.Запропонований метод статистичного аналізу технологічних процесів виробництва виробів радіоелектронного приладобудування на основі обчислення параметрів контрольних карт шляхом завадостійкої кластеризації з використанням вейвлет-перетворення. Такий підхід дозволяє при автоматизованому контролі технологічного процесу підвищити якість кластеризації в умовах апріорної невизначеності, яка обумовлена відсутністю інформації про форму кластерів в умовах зашумлених малих наборів даних вимірювань.The method of statistical technological process analysis for electronic apparatus production is suggested. This method based on noise stabilities clustering with wavelet transforming utilization. Such approach allows inspected of technological production process of electronic apparatus with highest level clustering quality. Such approach is recommended in case of control data with high level noise, when the information about form of clusters is absent
