En este trabajo se muestra un método que permite la medida en el plano 2D, conalta precisión de la posición, el desplazamiento y la orientación de un objeto móvil.Un plano de referencia es fijado a la superficie del objeto y es localizado en laescena por medio de un sistema de imagen estático con resolución subpixel en elplano perpendicular al eje óptico. El uso de la transformada de Fourier 2D, asociadoa la aproximación del plano de fase permiten alta resolución del sistema. Laintroducción de un defecto en el patrón de referencia permite la determinación de laorientación del objeto en un rango de ±180o, sin afectar la precisión y resolución enla localización del objeto
