GRETSI, Groupe d’Etudes du Traitement du Signal et des Images
Abstract
Cette contribution a pour objet de comparer l'efficacité des approches paramétriques et non-paramétriques en vue de caractériser des matériaux à partir de l'analyse texturale des images de microscope électronique par transmission. Dans le domaine non-paramétrique, c'est à dire sans modèle a priori, une approche ad-hoc basée sur la dispersion angulaire du gradient et une méthode basée sur l'analyse spectrale ont été développées. Pour la partie paramétrique, une modélisation à l'aide de coefficients de réflexion bidimensionnels obtenus par filtrage adaptatif linéaire bidimensionnel a été utilisée pour caractériser les différentes images de matériau