Nanoscale Characterization of TiO 2
- Authors
- Aarik J.
- Aarik J.
- Aarne Kasikov
- Albena Paskaleva
- Alica Rosová
- Anton J. Bauer
- Boris Hudec
- Cheol Seong Hwang
- De Wolf P.
- Edmund Dobročka
- Foissac R.
- Fröhlich K.
- Fröhlich K.
- Fröhlich K.
- Han J. H.
- Hofer A.
- Hudec B.
- Hölzl J.
- Iglesias V.
- Iglesias V.
- Ikeda H.
- Jaan Aarik
- Jeong Hwan Han
- Kamisaka H.
- Karol Fröhlich
- Katsuhisa Murakami
- Kim S. K.
- Kim S. K.
- Knauth P.
- Kristína Hušeková
- Kwon D. H.
- Lanza M.
- Lanza M.
- Lee S. W.
- Liborio L.
- Lothar Frey
- Mathias Rommel
- Menou N.
- Menou N.
- Murakami K.
- Perevalov T. V.
- Polspoel W.
- Raul Rammula
- Regonini D.
- Rommel M.
- Rothschild A.
- Seo M.
- Seul Ji Song
- Shin J. C.
- Tu R.
- Woongkyu Lee
- Yanev V.
- Yanev V.
- Yim C. M.
- Publication date
- Publisher
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Doi