Під час роботи вивчено елементний склад твердих розчинів Zn1-xMnxS. Дослідження показало, що шихта сполуки мала гексагональну структуру, в той час як плівки були двохфазними.
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/24753Во время работы изучен элементный состав твердых растворов Zn1-xMnxS. Исследование показало, что шихта соединения имела гексагональную структуру, в то время как пленки были двухфазными.
При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/24753During the work studied the elemental composition of solid solutions of Zn1-xMnxS. The study showed that the connection charge was a hexagonal structure, while the films were biphasic.
When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2475

Klymov, Oleksii Volodumurovych

Kurbatov, Denys Ihorovych

Климов, Алексей Владимирович

Климов, Олексій Володимирович

Курбатов, Денис Игоревич

Курбатов, Денис Ігорович

Electronic Sumy State University Institutional Repository

СТРУКТУРНІ ОСОБЛИВОСТІ ПЛІВОК Zn1-XMnXS  О. Климов, Д.Курбатов  Сумський державний університет, м. Суми, вул. Римського–Корсакова 2, klymoff@mail.ru  Плівки напівмагнітних твердих розчинів Zn1-xMnxS у наш час привертають підвищену увагу матеріалознавців завдяки унікальним фотолюмінесцентним, магнітним і магніто-оптичним властивостям та можливості створення на їх основі ряду приладів мікро- та оптоелектроніки, спінтроніки [1]. Зміна концентрації домішки дозволяє варіювати у широких межах такими важливими характеристиками матеріалу як ширина забороненої зони та стала кристалічної гратки, що є важливим при створені гетеропереходів між данною сполукою та іншими напівпровідниковими матеріалами [2]. Саме тому, визначення взаємозв'язку між хімічним складом і структурними параметрами плівок напівмагнітних твердих розчинів має важливе значення. За допомогою методу термічного вакуумного випарування у квазізамкненому об’ємі (КЗО) нами були отримані плівки твердих розчинів ZnMnS на неоріентуючих підкладках (сітал). Зразки наносилися у вакуумній установці ВУП-5М (ВАТ “Selmi”, м. Суми). Тиск залишкових газів у камері становив не більше 5·10-3 Па. Температура випарника становила Te=1000 0С, температура підкладки змінювалася у інтервалі 100- 450 0С. Здійснювалося випарування шихти напівпровідникової чистоти з вмістом марганцю 10%.  Елементний склад плівок визначався методом рентгеноспектрaльного aнaлізу з використанням енергодисперсионного aнaлізaторa рентгенівського випромінювання (EDAX). Розрахунок концентрації при цьому проводився не менш ніж у п'ятьох точках нa поверхні зразка з подальшим усередненням результатів. Дослідження фазового складу плівок проводилось на рентгенівському дифрактометрі ДРОН 4-07 в Nі-фильтрованом Kα випромінюванні мідного анода. Зйомки проводилися в діапазоні кутів 2θ: 20о – 80о, де 2θ – Брегівський кут. При дослідженнях використовувалося фокусування рентгенівського випромінювання по Бреггу-Брентано. Період гратки матеріала визначався з використанням апроксимаційних методів Нельсона-Рілі та Бредлі-Джея. Текстура плівок оцінювалась за методом Харріса, який особливо зручний при досліджені плоских зразків з віссю текстури, що орієнтована по нормалі до їх поверхні. При цьому розраховувалася полюсна густина та орієнтаційний фактор. Як еталон нетекстурованого зразка використовувалася шихта. В результаті досліджень встановлено, що вміст марганцю в конденсатах залежав від фізико-технологічних режимів конденсації та змінювався у інтервалі 3,7-9,5 ат. відсотка. Шихта сполуки мала гексагональну структуру, в той час як плівки були двохфазними. Проведена ідентифікація фазового складу плівок та визначені періоди гратки цих фаз. За періодом гратки матеріалів визначений приблизний вміст марганцю у кожній фазі. Встановлено також, що кубічна складова плівок була текстурованою та мала текстуру росту [111].    [1]  J. Kossut, J. A. Gaj, Introduction to the Physics of Diluted Magnetic Semiconductors, Springer Series in materials science, Warsaw (2010), с. 469. [2] Н.Н Берченко. Полупроводниковые твердые растворы и их применение: Справочные таблицы /  Н.Н. Берченко, В.Е. Кревс, В.Г. Середин., Воениздат, Москва (1982), c. 208. 

Структурні особливості плівок Zn1-XMnXS

SocioEconomic Challenges Journal (Sumy State University)

СТРУКТУРНІ ОСОБЛИВОСТІ ПЛІВОК Zn1-XMnXS 
 
О. Климов, Д.Курбатов 
 
Сумський державний університет, м. Суми, вул. Римського–Корсакова 2, 
klymoff@mail.ru 
 
Плівки напівмагнітних твердих розчинів Zn1-xMnxS у наш час привертають 
підвищену увагу матеріалознавців завдяки унікальним фотолюмінесцентним, 
магнітним і магніто-оптичним властивостям та можливості створення на їх основі ряду 
приладів мікро- та оптоелектроніки, спінтроніки [1]. Зміна концентрації домішки 
дозволяє варіювати у широких межах такими важливими характеристиками матеріалу 
як ширина забороненої зони та стала кристалічної гратки, що є важливим при створені 
гетеропереходів між данною сполукою та іншими напівпровідниковими матеріалами 
[2]. Саме тому, визначення взаємозв'язку між хімічним складом і структурними 
параметрами плівок напівмагнітних твердих розчинів має важливе значення. 
За допомогою методу термічного вакуумного випарування у квазізамкненому 
об’ємі (КЗО) нами були отримані плівки твердих розчинів ZnMnS на неоріентуючих 
підкладках (сітал). Зразки наносилися у вакуумній установці ВУП-5М (ВАТ “Selmi”, м. 
Суми). Тиск залишкових газів у камері становив не більше 5·10-3 Па. Температура 
випарника становила Te=1000 
0С, температура підкладки змінювалася у інтервалі 100- 
450 
0С. Здійснювалося випарування шихти напівпровідникової чистоти з вмістом 
марганцю 10%. 
 Елементний склад плівок визначався методом рентгеноспектрaльного aнaлізу з 
використанням енергодисперсионного aнaлізaторa рентгенівського випромінювання 
(EDAX). Розрахунок концентрації при цьому проводився не менш ніж у п'ятьох точках 
нa поверхні зразка з подальшим усередненням результатів. 
Дослідження фазового складу плівок проводилось на рентгенівському 
дифрактометрі ДРОН 4-07 в Nі-фильтрованом Kα випромінюванні мідного анода. 
Зйомки проводилися в діапазоні кутів 2θ: 20о – 80о, де 2θ – Брегівський кут. При 
дослідженнях використовувалося фокусування рентгенівського випромінювання по 
Бреггу-Брентано. Період гратки матеріала визначався з використанням 
апроксимаційних методів Нельсона-Рілі та Бредлі-Джея. 
Текстура плівок оцінювалась за методом Харріса, який особливо зручний при 
досліджені плоских зразків з віссю текстури, що орієнтована по нормалі до їх поверхні. 
При цьому розраховувалася полюсна густина та орієнтаційний фактор. Як еталон 
нетекстурованого зразка використовувалася шихта. 
В результаті досліджень встановлено, що вміст марганцю в конденсатах залежав 
від фізико-технологічних режимів конденсації та змінювався у інтервалі 3,7-9,5 ат. 
відсотка. Шихта сполуки мала гексагональну структуру, в той час як плівки були 
двохфазними. Проведена ідентифікація фазового складу плівок та визначені періоди 
гратки цих фаз. За періодом гратки матеріалів визначений приблизний вміст марганцю 
у кожній фазі. Встановлено також, що кубічна складова плівок була текстурованою та 
мала текстуру росту [111].   
 
[1]  J. Kossut, J. A. Gaj, Introduction to the Physics of Diluted Magnetic Semiconductors, 
Springer Series in materials science, Warsaw (2010), с. 469. 
[2] Н.Н Берченко. Полупроводниковые твердые растворы и их применение: Справочные 
таблицы /  Н.Н. Берченко, В.Е. Кревс, В.Г. Середин., Воениздат, Москва (1982), c. 208. 


Ukrainian

https://essuir.sumdu.edu.ua/bitstream/123456789/24753/1/Struct_proper.pdf

Структурні особливості плівок Zn1-XMnXS

Abstract

Similar works

Full text

Available Versions

Electronic Sumy State University Institutional Repository

SocioEconomic Challenges Journal (Sumy State University)