In BIST structures feedback registers play the role of test generators and test response compactors. Linear feedback shift registers (LFSR) are here of predominating importance. These registers are relatively simple in designing. Non-linear feedback shift registers designing to diagnostic aims is considerably more complicated. The possibility to use the genetic programming to design the non-linear feedback shift registers is presented in the article. Usefulness of this approach to design the registers helpful in the BIST structures is testified by numerous examples.Badura D. (1992). Techniki projektowania samotestowalnych układów i pakietów cyfrowych wykorzystujące rejestry szeregowe z nieliniowym sprzężeniem zwrotnym, Uniwersytet Śląski.Elmrych M. (2004). Metody genetyczne w projektowaniu rejestrów z nieliniowym sprzężeniem zwrotnym, Uniwersytet Śląski, Sosnowiec.Gościniak I. (1996). Liniowa metoda zwiększania efektywności diagnostycznej ścieżki
samotestującej i pierścienia samotestującego. Pomiary Automatyka Kontrola, nr 4, Warszawa.Gościniak I., Chodacki M. (2003). Genetic algorithms for the designing feedback shift
registers, 6 th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits
and Systems, Poznań, Poland, pp 301-302.Hławiczka A. (1997). Rejestry liniowe – analiza, synteza i zastosowania w testowaniu układów
cyfrowych, Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice.Hürner H. (1996). A C++ Class Library for Genetic Programming, The Vienna University of
Economics.Koza J. R. (1992). Genetic Programming: On the Programming of Computers by Means of
Natural Selection, MIT Press.Słota T. (2004). Metody genetyczne w projektowaniu rejestrów liczących, Uniwersytet Śląski,
Sosnowiec.Wagner F. (1977). Projektowanie krótkich rejestrów liczących, Politechnika Śląska, ZN Nr. 526
