EXELFS as a structural tool for studies of low Z-elements

Abstract

Résumé. 2014 Des études de pertes d’énergie d’électrons effectuées en microscopie électronique à moyenne et haute tension nous ont permis de mettre en évidence les modulations EXELFS sur les dis-tributions associées aux excitations du niveau atomique K des éléments de faibles numéros atomiques (Z ~ 16). Ces modulations constituent une source d’information importante sur l’ordre atomique local dans les matériaux légers. Après un rappel des bases physiques et des principes de traitement du signal EXELFS, nous discutons les aspects essentiels de la technique expérimentale dans son applica-tion en microscopie électronique à transmission à moyenne tension. Les possibilités de la technique sont étudiées à travers trois types de résultats obtenus à partir d’échantillons de graphite, de nitrure de bore hexagonal, de carbone amorphe et de carbure de silicium cubique. Ces exemples ont été choi-sis de manière à discuter la précision de la technique, les possibilités de détermination de l’ordre à courte distance dans la matière cristalline et amorphe et à faire apparaître, en particulier, l’influence des effets de diffusion multiple dans les échantillons. Abstract. 2014 By using high and medium voltage microscopes we have been able to obtain EELS spectra showing EXELFS modulations above the K edge of low atomic number Z ~ 16, elements. These modulations supply important structural information about the local atomic environment of th