一个检测半导体激光器质量的有效方法

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Publication date
1 January 1996
Publisher

Abstract

对一百支PBC结构的InGaAsP/InP激光器的检测表明,通过变温的电导数及热阻测试给出的参数及参数随温度的变化可对半导体激光器有效地进行质量评价和可靠性筛选

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