Optische Erfassung von Defekten mittels multiskaliger Mess- und Inspektionstechnik

Authors
Publication date
1 January 2015
Publisher
Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
Doi

    Abstract

    [no abstract

      Similar works

      Full text

      thumbnail-image

      Available Versions

      Institutionelles Repositorium der Leibniz Universität Hannover

      redirect
      oaioai:www.repo.uni-hannover.de:1...
      Last time updated on 17/12/2019