Сибирский федеральный университет. Siberian Federal University
Abstract
An approach to analysis of magneto-optical ellipsometry measurements is presented. A two-layer model
of ferromagnetic reflective films is in focus. The obtained algorithm can be used to control optical and
magneto-optical properties during films growth inside vacuum chambersПредставлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматрива-
ется двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может
использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их
роста в вакуумных камера
