Review of a book by R. Klockenkaemper and A. von Bohlen “Total-reflection x-ray fluorescence analysis and related methods”, Second edition. John Wiley & Sons Inc., New Jersey, 2015, 519 pp. Isbn 978-1-118-46027-6

Abstract

Рентгенофлуоресцентный анализ с полным внешним отражением (РФА c ПВО) в настоящее время занимает важное место среди таких конкурентоспособных методов элементного спектрального анализа, как пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия, электротермическая атомно-абсорбционная спектрометрия, масс-спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой и оптическая эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой. В работе представлена информация о монографии R. Klockenkaemper и A. von Bohlen “Total-reflection X-ray fluorescence analysis and related methods”. Это второе издание популярной монографии R. Klockenkaemper (1997). Материал книги обсуждается по главам. По сравнению с первым изданием книга существенно дополнена свежей информацией, опубликованной в работах последних лет, и новым разделом: “Тренды и перспективы развития”. Издание дополнено также информацией о варианте РФА с использованием скользящего падения рентгеновского излучения (GI-XRF). Отмечено, что изложению технологических аспектов выполнения анализа (приготовления образцов к измерениям, регистрации и интерпретации спектров, проведения качественного и количественного анализа) посвящена самая большая глава книги (4 глава, 167 стр.). Представляет интерес обзор современных коммерчески доступных спектрометров РФА c ПВО. Авторы подготовили добротное справочное руководство, полезное как для начинающих, так и для квалифицированных специалистов. Представляется, что книга будет востребована в лабораториях академических и отраслевых институтов, а также в лабораториях промышленных предприятий.The total reflection X-ray fluorescence analysis takes presently an important place among such competitive methods of elemental spectral analysis as flame atomic absorption spectrometry, electrothermal atomic absorption spectrometry, inductively coupled plasma mass spectrometry and inductively coupled plasma-optical emission spectrometry. The book gives information about the monograph by R. Klockenkaemper and A. von Bohlen "Total-reflection X-ray fluorescence analysis and related methods". This is the second edition of the popular monograph by R. Klockenkaemper (1997). The materials of the book are discussed chapter by chapter. Compared to the first edition the book is essentially completed by up-to-date information, published in the papers of recent years, and a new section: "Trends and Prospects for Development". The edition is also completed by information on XRF variant using grazing incidence of X-rays (GI-XRF). It is noted that the largest chapter of the book (Chapter 4, 167 p.) is dedicated to the presentation of technological aspects of making analysis (sample preparation for measurement, registrating and interpreting spectra, and carrying out qualitative and quantitative analysis). The review of current commercially available total reflection XRF spectrometers is of interest. The authors have prepared well made reference guide, useful both for beginners and for skilled scientists. It seems that the book will be in demand in the laboratories of academic and branch institutes, as well industrial enterprises