research

Детектирование дефектов пленок SiO₂ холестерическими жидкими кристаллами

Authors
Publication date
1 January 2017
Publisher

Abstract

Рассмотрена возможность регистрации дефектов пленки окиси кремния на кремнии с помощью нескольких электрооптических эффектов, присущих холестерическому жидкому кристалл

    Similar works

    Full text

    thumbnail-image

    Available Versions

    DSpace at Belgorod State University

    redirect
    oaioai:dspace.bsu.edu.ru:12345678...
    Last time updated on 01/04/2018

    DSpace at Belgorod State University

    redirect
    oaioai:dspace.bsu.edu.ru:12345678...
    Last time updated on 24/05/2024