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Authors
上田 仁悦
小泉 弘樹
山本 隆儀
西沢 滝太
Publication date
20 January 1990
Publisher
山形大学
Abstract
【緒言】良品質多収の果実生産を行うには,樹冠内葉層による光エネルギーの効率的利用及び結果部周辺の日当りの改善が要求される.また,このための具体的研究課題のーつとして,日当り良好な樹形や葉群構造の検索がある.著者らは上記の観点に立ってこれまで一連の研究を続けてきた.すなわち,空間的に極めて不均一な葉群分布を有する果樹樹冠内の放射分布を明らかにする目的で,果樹個体(群)全葉の葉商放射の瞬時分布を推定するモデル(以後,葉面放射分布モデルと記す)を作成し,良好な検証結果を得た.しかし,上記モデルに用いる葉量の空間分布データを実際の果樹から入手することは,従来,極めて困難であった.そこで,さらに,二側面写真画像を用いた果樹の樹形・葉群構造の簡易解析システムを開発し,これを用いることにより,上記の葉量の空間分布データの入手のための労力,時間を大幅に短縮させることができた(なお,上記システムはこれ以外の多くの機能を有している).したがって,現在,上記のモデルとシステムを活用することにより,実際の果樹の日当り解析を従来より格段に効率良く行うことが可能になったといえる.本報告の主目的は,上記モデルを広範囲の果樹に適用させるべく,各果樹に特有なパラメータについて,多数の落葉果樹を用いて測定入手し,これらを記載することである.このパラメータは上記モデル内変数として用いられる種々の放射減衰係数を推定計算するためのもので,いずれも果樹の種類・品種から経験的に調査することが必要である.また,このパラメータの測定方法については,既報では,紙面の関係から簡単に触れてきたが,本報では詳細に示すと共に,併わせて,関連する減衰係数の性格についても記す
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