(113)面硅衬底上自组织生长的GeSi量子点及其光荧光

Abstract

用透射电子显微镜观察了Si(113)衬底上由固态源分子束外延生长的自组织量子点的形貌,测量了其原生及退火后低温下的荧光光谱。对所得结果进行了分析

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