A espectrometria de fluorescência de raios X em dispersão de comprimentos de onda (XDXFR) é uma técnica analítica comparativa que permite uma abordagem expedita, não destrutiva e que apresenta
um baixo risco de contaminação. Esta técnica é aplicável a materiais na avaliação de contaminantes visando a identificação da sua origem e na avaliação de conformidade (cumprimentos de especificações). Neste trabalho utilizou-se um espectrómetro WDXRF sequencial AXIOS, equipado com um gerador de 4kW, uma ampola de anti-cádoto de ródio, controlado pelo software SuperQ da PANalylical e apresenta-se e discute-se a metodologia seguida assim como se apresentam as potencialidades identificadas em resultado da utilização desta técnica
