Impiego dell\u2019analisi di diffrazione dei raggi X (XRD) per lo studio dei fenomeni di raffermamento del pane

Abstract

L\u2019analisi di diffrazione dei raggi X \ue8 stata utilizzata per studiare la cristallinit\ue0 di campioni di pane conservati a -18\ub0, 4\ub0 e 25\ub0C fino a 20 giorni. L\u2019aumento di consistenza del prodotto durante il raffermamento \ue8 risultato ben correlato con la sua cristallinit\ue0. In presenza di fenomeni di migrazioni di umidit\ue0 dall\u2019interno del pane verso la superficie esterna maggiormente disidratata, l\u2019incremento di consistenza \ue8 stato osservato dipendere non solo dai cambiamenti di cristallinit\ue0 ma anche di quelli di attivit\ue0 dell\u2019acqua. Inoltre, questi due parametri sembrano agire sinergicamente nel modificare la consistenza del pane

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