При вирощуванні зливків монокристалічного сапфіру в ньому виникають дефекти у вигляді мікробульбашок, границь блоків і зумовлені ними механічні напруження, які суттєво впливають на функціональні властивості кристалу. Проблему контролю якості сапфірових структур вирішують багатьма способами, але вони не є достатньо чутливими для потреб сучасної оптики та мікроелектроніки, або є складними у використанні (рентгенівські методи). Традиційний контроль внутрішніх механічних напружень здійснюють візуально на полярископі-поляриметрі ПКС-250, в основу якого покладено метод подвійного променезаломлення Сенармона. Проте технічні можливості цього традиційного методу не здатні виконувати високочутливий кількісний контроль зразків монокристалів сапфіру з мікронапруженнями. Тому актуальною задачею сучасного приладобудування є розроблення нових високочутливих методів технічної діагностики та неруйнівного контролю якості деталей із сапфіру. Автори роботи досліджували можливість використання методу модуляційної поляриметрії для вирішення поставленої задачі. Однак стан поляризації як характеристики випромінювання має з огляду на диференціальну спектроскопію суттєву відмінність від інших способів модуляції. Вона полягає, перш за все, у тому, що поляризація, як просторова характеристика хвилі, залежить від сукупності значень – компонент вектора Максвела-Джонса або вектора Стокса. Отже, на відміну від модуляцій інших фізичних величин, що оперують із єдиним параметром, поляризаційна модуляція (ПМ) характеризується двомірним впливом на хвилю. Метою роботи було розроблення методики визначення абсолютних величин внутрішніх механічних напружень у локальних точках сапфірових оптичних вікон за допомогою модуляційної поляриметрії. У результаті проведених досліджень полірованих зразків сапфіру (типу оптичних вікон) було розроблено методику визначення абсолютних значень внутрішніх механічних напружень у матеріалах, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання на основі модуляційної поляриметрії. Розроблена методика дозволила виявити внутрішні механічні напруження у сапфірових вікнах і визначити причину невідповідності досліджених зразків щодо вимог лазерних систем. Розроблено методику експериментального визначення величини абсолютних значень внутрішніх механічних напружень у сапфірових оптичних вікнах за допомогою використання модуляційної поляриметрії. Встановлено розподіл у двомірному просторі внутрішніх напружень у полірованих зразках сапфіру та їх абсолютні значення.There are defects such as microbubbles and boundaries of blocks appears in monocrystalline sapphire bars when they growing due to mechanical stresses that significantly affect the functional properties of the crystal. The quality control structures sapphire problem is solved in many ways, but they are not sufficiently sensitive to the needs of modern optics and microelectronics, or difficult to use (X-ray methods). Traditional control internal mechanical stresses perform visually on polariscope-polarimeter PKS-250, which is based on the double refraction Senarmona. However, the traditional method technical capability is not able to perform highly quantitative control samples of single crystal sapphire with mikrostresses. Therefore, the actual problem of modern instrumentation is the development of new highly sensitive methods of non-destructive quality diagnostics and control of parts of the sapphire. The authors of investigated the possibility of using the method of modulation polarimetry to solve this problem. However, this characteristic radiation as the state of polarization has in terms of differential spectroscopy substantial difference from other methods of modulation. It is, above all, that the polarization as spatial characteristics of the wave reflected set of values - the components of the vector Maxwell Jones or Stokes vector. Thus, unlike the modulation of other physical quantities that operate with a single parameter, polarization modulation (PM) is characterized by two-dimensional effects on the wave. The purpose of the work was the development of methods for determining the absolute values of the internal stresses in local points of sapphire optical windows using modulation polarimetry. The polished sapphire samples (such as optical windows) studies has developed a method of determining the absolute values of the internal stresses in materials transparent in the optical radiation through modulation polarimetry. The identification of internal stresses in the sapphire windows and determine the cause of inconsistency of the samples with the requirements of laser systems are enabled in this method. The determination of the absolute values of internal mechanical stresses in sapphire optical windows through the use of modulation polarimetry experimental method is developed. The distribution in two-dimensional space of internal stresses in polished sapphire samples and their absolute values are established.При выращивании слитков монокристаллического сапфира в нем возникают дефекты в виде микропузырьков, границ блоков и обусловленные ими механические напряжения, которые существенно влияют на функциональные свойства кристалла. Проблему контроля качества сапфировых структур решают различными способами, но они не достаточно чувствительны для нужд современной оптики и микроэлектроники, или сложны в использовании (рентгеновские методы). Традиционный контроль внутренних механических напряжений осуществляют визуально на полярископе-поляриметре ПКС-250, в основу которого положен метод двойного лучепреломления Сенармона. Однако технические возможности этого традиционного метода не способны выполнять высокочувствительный количественный контроль образцов монокристаллов сапфира с микронапряжениями. Поэтому актуальной задачей современного приборостроения является разработка новых высокочувствительных методов технической диагностики и неразрушающего контроля качества деталей из сапфира. Авторы работы исследовали возможность использования метода модуляционной поляриметрии для решения поставленной задачи. Однако такая характеристика излучения как состояние поляризации, имеет с точки зрения дифференциальной спектроскопии существенное отличие от других способов модуляции. Она заключается, прежде всего, в том, что поляризация, как пространственная характеристика волны, выражается совокупностью значений - компонентами вектора Максвелла-Джонса или вектора Стокса. Таким образом, в отличие от модуляций других физических величин, оперирующих с единственным параметром, поляризационная модуляция (ПМ) характеризуется двухмерным влиянием на волну. Целью работы была разработка методики определения абсолютных величин внутренних механических напряжений в локальных точках сапфировых оптических окон с помощью модуляционной поляриметрии. В результате проведенных исследований полированных образцов сапфира (типа оптических окон) была разработана методика определения абсолютных значений внутренних механических напряжений в материалах, прозрачных в оптическом диапазоне излучения на основе модуляционной поляриметрии. Разработанная методика позволила выявить внутренние механические напряжения в сапфировых окнах и определить причину несоответствия исследованных образцов требованиям лазерных систем. Разработана методика экспериментального определения величины абсолютных значений внутренних механических напряжений в сапфировых оптических окнах за счет использования модуляционной поляриметрии. Установлено распределение в двухмерном пространстве внутренних напряжений в полированных образцах сапфира и их абсолютные значения
