Normalizacion de las latencias absolutas e interondas a nivel supraumbral para un equipo de potenciales evocados de tronco-encefalo de la Clinica fonaudiologica de la Universidad de Talca.

Abstract

53 p.En los últimos años las pruebas electrofisiológicas han tomado un papel relevante como alternativa a la prueba gold estándar para evaluar la audición correspondiente a la audiometría tonal liminar (ATL). Dentro de la pruebas electrofisiológicas se encuentra la Prueba de Potenciales Auditivos de Tronco-Encéfalo (PEAT). Para la interpretación del registro electrofisiológico obtenido por los PEAT, es necesario conocer lo valores de normalidad de latencias de los principales componentes y su relación con las distintitas intensidades de estimulación. A pesar de la existencia de baremos internacionales es imprescindible conocer valores de normalidad para cada laboratorio clínico, pues los registros de los PEAT son sensibles a diferencias en los parámetros de estimulación, en los parámetros de registro y condiciones de registro, entre otras. Objetivo: El objetivo del presente estudio es describir las características de latencias absolutas y de intervalos interondas de la componente I, III y V de los PEAT a nivel supraumbral (75 dB nHL); y establecer la diferencia en dB entre el umbral de la onda V y el promedio de las frecuencias de 2000 y 4000Hz obtenidos en la audiometría, en sujetos normoyentes sin patología auditiva, utilizando parámetros de estimulación y de registro propios de la Clínica Fonoaudiológica de la Universidad de Talca. Sujetos: 51 sujetos seleccionados previamente al azar a partir de un marco muestral de la carrera de Fonoaudiología de la Universidad de Talca, Metodología: previa a la realización de el examen de un PEAT, para determinar normalidad auditiva se realizó un tamizaje auditvo, que consta de una otoscopía, impedanciometría y una audiometría tonal liminar. La intensidad de estimulación del PEAT será desde los 75 dB nHL identificando las latencias de los componentes I, III y V, hasta la intensidad de desaparición (umbral) de la componente V