Eindiffusion von Cs in Hochtemperaturlegierungen (Eine Untersuchung mittels Raster - Augerelektronen - Spektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie)

Abstract

Proben von Hochtemperaturlegierungen (TZM, Nimocast) sowie je ein Mo- und ein Ni-Einkristall wurden für 509 Stunden bei 78O°C in Cs-Dampf von 7 x 107^{-7} Torr geglüht. Anschließend wurden Cs-Konzentrationsprofile senkrecht zur Oberfläche mittels Raster-Augerelektronen-Spektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie in Verbindung mit Ar-Ionenzerstäubung bestimmt. Für eineCs-Konzentration von 0,1 Atomprozent ist die Eindringtiefe bei Mo (110) etwa 100 A˚\mathring{A}, bei TZM etwa 300 A˚\mathring{A}, bei Ni (110) etwa 1000A˚\mathring{A} und bei Nimocast in der Größenordnung von 1μ\mum

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