Trabalho de projecto de mestrado, Engenharia da Energia e Ambiente, Universidade de Lisboa, Faculdade de Ciências, 2016O presente trabalho tem como principal objectivo o estudo de camadas anti-reflectoras para células solares, tendo sido feito várias deposições de filmes simples, usando materiais como o óxido de silício, óxido de alumínio e óxido de titânio. Estes filmes foram depositados usando um processo de evaporação física assistida por canhão de electrões. Para a caracterização dos filmes foram feitas medidas de reflectância e da espessura dos filmes. Nas medições de reflectância, foi utilizada uma técnica de medição do fluxo radiante baseada numa esfera integradora e de medição por espectrofotometria. Para a medição da espessura dos filmes obtidos da deposição recorreu-se à elipsometria, fornecendo igualmente valores de espessura e índices de refracção característicos para esses filmes. Neste trabalho, foi também desenvolvido um simulador que permite representar curvas de reflectância de filmes sobre silício, permitindo alterar as propriedades ópticas em qualquer nível da amostra.This work has as main objective the study of anti-reflective coatings for solar cells, having been made several depositions of simple thin films, using materials such as silicon oxide, aluminum oxide and titanium oxide. These films were deposited using a process of physical evaporation assisted by the electron gun. For the characterization of thin films were made the reflectance measurements and the thickness of the thin films. In reflectance measurements, we used a radiant flux measurement technique based on an integrating sphere and measured by spectrophotometry. For measuring the thickness of the deposition thin film obtained resorted to ellipsometry also providing characteristic values of thickness and refractive indices for these films. In this work, it was also developed a simulator that allows represent reflectance curves of thin films over silicon, allowing to change the optical properties at any level of the sample
