Se implementa un método para indentar superficies rígidas a niveles nanométricos utilizando un microscopio de fuerzas
atómicas (Atomic Force Microscopy-AFM), empleando el modo de espectroscopia de fuerzas (Force Spectroscopy-FS),
el cual nos permite generar un movimiento vertical de la punta sin producir fuerzas laterales. Uno de los factores más
críticos durante este estudio ha sido caracterizar la máxima fuerza aplicada por el AFM la cual no produce deformación
remanente, esto se ha obtenido a partir del factor de sensitividad de la palanca del AFM, así como de la correcta
determinación del radio de curvatura (r) de la punta antes y después de la indentación. A partir de las curvas de fuerzapenetración
(F vs. he) obtenidas a 200 nN de carga aplicada, y utilizando un modelo de contacto Hertziano, se ha podido
determinar el módulo de Young (E) del material cuando se encuentra sometido a un campo de deformación totalmente
elástico.Postprint (published version
