HTSL-Grundlagen zur Technologie. Teilprojekt: Grundlagen zur Technologie von HTSL-Verbindungstechnik in der Mikroelektronik Vergleichende Analyse des Y-Ba-Cu-O- und Bi-Sr-Ca-Cu-O-Systems. 3. Zwischenbericht

Abstract

Available from TIB Hannover: F99B957+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEBundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)DEGerman

    Similar works

    Full text

    thumbnail-image

    Available Versions

    Last time updated on 14/06/2016