TOF-SIMS, Entwicklung eines hochempfindlichen Flugzeit-Sekundaerionen-Massenspektrometers fuer die routinemaessige Spurenanalyse organischer Substanzen Schlussbericht

Authors
Publication date
1 January 1988
Publisher

Abstract

8 figs.TIB Hannover: D.Dt.F. AC 1000(35,14) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEDEGerman

    Similar works

    Full text

    thumbnail-image

    Available Versions

    OpenGrey Repository

    redirect
    Last time updated on 14/06/2016