Untersuchung mittels Ferromagnetischer Resonanz an Kobalt-, Nickel- und Eisen-Filmen aus elektrochemischer und molekularepitaktischer Abscheidung

Abstract

Kobalt- und Nickel-Schichten aus elektrochemischer Abscheidung wurden mittels frequenz- und winkelabhaengiger Ferromagnetischer Resonanz (FMR) untersucht. Durch die Bestimmung der magnetischen Anisotropiekonstanten konnte Aussagen ueber ihre magnetische Struktur gewonnen und diese, durch den Vergleich mit strukturellen Untersuchungen, auf die Wachstumsbedingungen zurueckgefuehrt werden. Hierzu wurden FMR-Messungen waehrend des elektrochemischen Wachstums und, mit Hilfe eines Rastertunnelmikroskop, mit hoher lateraler Aufloesung durchgefuehrt. Durch frequenzabhaengige FMR-Messungen konnten die magnetische Daempfung und der g-Faktor von Molekularstrahl epitaktisch gewachsenen Eisen Schichten auf Halbleitersubstraten bestimmt werden. Dabei konnten Vorzugsrichtungen innerhalb der Probenebene erkannt werden, in denen die Daempfung erniedrigt bzw. der g-Faktor erhoeht ist. Diese Abweichung zum erwarteten richtungsunabhaengigen Verhalten kann durch in situ Wachstumsuntersuchungen erlaeutert werden.Cobalt and nickel layers from elektrochemical deposition were studied by means of frequency and angle-dependent ferromagnetic resonance (FMR). By the determination of the magnetic anisotropy constant statements on their magnetic structure could be obtained and these by the comparison with structural studies be related to the growth conditions. For this FMR measurements were performed during the elctrochemical growth and by means of a scanning tunnel microsope with high lateral resolution. By frequency-dependent FMR-measurement the magnetic damping and the g-faktor of molecular-beam epitactically grown iron layers on semiconductor substrates could be determined. Thereby preferential directions within the sample plane could be detected, in which the damping is lowered respectively the g-factor increased. This deviation from the expected direction-independent behaviour can be explained by in situ growth studies.SIGLEAvailable from: http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=972652663 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekDEGerman