Tastspitzen mit integriertem MOSFET-Sensor fuer die Rastersondenmikroskopie. Teilentwicklung: Rastersondenmikroskopie unter Verwendung derartiger Sensoren Abschlussbericht

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Publication date
1 January 2001
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Abstract

SIGLEAvailable from TIB Hannover: DtF QN1(91,42) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekBundesministerium fuer Bildung und Forschung, Berlin (Germany)DEGerman

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