Helium Ion Microscopy
- Authors
- A. George
- A. Nomura
- A. Szczepkowicz
- A. Szczepkowicz
- A.E. Vladár
- A.H. Zewail
- B. Ziaja
- B.C. Stipe
- C. Davisson
- C.A. Sanford
- D. Cohen-Tanugi
- D. McMullan
- D. Montgomery
- D. Winston
- D.A. Smith
- D.C. Bell
- D.J. Maas
- D.L. Silva da
- E. Bauer
- E. Drift van der
- E.W. Müller
- E.W. Müller
- E.W. Ward
- EDFAS Desk Reference Committee
- F. Aramaki
- G. Binnig
- G. Hlawacek
- H. Busch
- H. Salow
- H.C. Pfeiffer
- I. Utke
- J. Singh
- J. Tersoff
- J. Yang
- J.C. Tucek
- J.E. Barth
- J.F. Ziegler
- J.H. Franken
- J.L. Pitters
- J.L. Wiza
- J.P. Ballantyne
- J.W. Rabalais
- K. Ohya
- K. Ohya
- K.-Y. Wu
- L. Reimer
- L. Scipioni
- L. Scipioni
- L.A. Giannuzzi
- L.W. Swanson
- M. Ardenne von
- M. Hellsing
- M. Knoll
- M. Knoll
- M. Rudneva
- M.J. Rost
- M.P. Seah
- M.T. Postek
- N. Bohr
- P. Chen
- P. Jung
- P. Varga
- P.F.A. Alkemade
- P.F.A. Alkemade
- P.F.A. Alkemade
- P.W. Hawkes
- R. Gastel van
- R. Hill
- R. Levi-Setti
- R. Livengood
- R. Luftig
- R. Ramachandra
- R.F.M. Thornley
- R.L. Stewart
- R.P. Feynman
- S. Kostinski
- S. Ogawa
- S. Sijbrandij
- S. Sijbrandij
- S. Tan
- S. Tan
- S.A. Boden
- S.A. Boden
- T. Wirtz
- T. Yamanaka
- T.E. Everhart
- T.T. Tsong
- T.T. Tsong
- V. Castaldo
- V. Castaldo
- V. Sidorkin
- V.A. Zworykin
- W. Eckstein
- W. Telieps
- W.A. Schroeder
- Y. Drezner
- Y.S. Hor
- Y.V. Petrov
- Publication date
- 1 January 2013
- Publisher
- Springer Verlag, vol. 51
- Doi