Análisis de la interfaz titanio-hueso mediante microscopía electrónica y eds. Estudio preliminar

Abstract

Fil: Fontana, Sebastían. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Odontología; Argentina.Fil: Filsinger, Alejandro Jorge . Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Odontología. Cátedra de Prostodoncia III B; Argentina.Fil: Gait, María Teresa de las Mercedes. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Odontología. Cátedra Integral Niños y Adolescentes B. Área Ortodoncia; Argentina.Fil: Zanotti, Alejandro Federico. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Odontología. Cátedra de Microbiiología; Argentina.Fil: Plavnik, Luis Mario. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Odontología. Cátedra de Histología y Embriología A; Argentina.En estudios previos (SAIO 2015) nuestro grupo de trabajo demostró en el modelo del Laminar Implant Test, que láminas de titanio tratadas superficialmente con triple método (blasting de alúmina+grabado ácido+oxidación térmica, Oxalife ®) producían un mayor porcentaje de oseointegración que láminas tratadas con doble método (blasting de alúmina+grabado ácido, Oxacid ®), exhibiendo diferencias estadísticamente significativas (63% vs 46%). Objetivo: El objetivo del presente trabajo fue utilizar la microscopía electrónica de barrido (SEM) para corroborar los hallazgos microscópicos de la interfaz hueso neoformado-implante (H-I); y evaluar la diseminación de microelementos en el tejido periimplantar mediante espectrómetro dispersivo de energía (EDS). Materiales y Métodos: Para este estudio se utilizó material de archivo: tibias de ratas wistar, con láminas de titanio implantadas en médula ósea correspondientes al grupo Oxacid (n=3) y al grupo Oxalife (n=3). Se obtuvieron secciones perpendiculares al implante que fueron desgastadas, pulidas y preparadas con carbono superficial para su estudio a SEM y EDS. Las muestras se observaron a un aumento de 500 x, eligiendo en cada una la zona de mayor contacto H-I. Por cada imagen se tomaron 3 mediciones de la distancia H-I. También se realizó un microanálisis de los elementos químicos hallados en tres espectros: zona media del implante, interfaz H-I y en la zona del tejido óseo neoformado. Resultados: El grupo Oxacid mostró una distancia H-I de 24,50 µm mientras que en el grupo Oxalife la distancia fue de 0,43 µm. En la zona de tejido óseo neoformado se indentificaron partículas de Al en cantidades variables. Conclusión: El estudio mediante SEM confirmó con más precisión que el triple tratamiento superficial (Oxalife) favorece a un contacto más estrecho entre H-I en comparación con el grupo (Oxacid). En el tejido óseo peri-mplantar, se detectaron con EDS partículas de Al, probablemente provenientes del tratamiento superficial realizado en ambos gruposFil: Fontana, Sebastían. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Odontología; Argentina.Fil: Filsinger, Alejandro Jorge . Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Odontología. Cátedra de Prostodoncia III B; Argentina.Fil: Gait, María Teresa de las Mercedes. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Odontología. Cátedra Integral Niños y Adolescentes B. Área Ortodoncia; Argentina.Fil: Zanotti, Alejandro Federico. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Odontología. Cátedra de Microbiiología; Argentina.Fil: Plavnik, Luis Mario. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Odontología. Cátedra de Histología y Embriología A; Argentina.Otras Ciencias de la Salu

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