NaNd(WO4)2 and NaNd(MoO4)2 ceramic samples subjected to ion implantation is considered. The degree of amorphization of the near-surface layer of the samples depending on the fluence were obtained. The depth of the amorphized layer was also investigated.Рентгенодифракционные исследования образцов до и после облучения выполнялись в лаборатории диагностики радиационных дефектов в твердотельных наноструктурах ИФМ РАН при поддержке Министерства науки и высшего образования РФ (г/з № 0030-2021-0030). Исследование выполнено при финансовой поддержке РФФИ в рамках научного проекта №20-21-00145_Росатом
