Laser shallow melting of p-type silicon wafers as substrates for tunnel junctions in tandem solar cells

Abstract

Tese de mestrado integrado, Engenharia da Energia e do Ambiente , 2022, Universidade de Lisboa, Faculdade de CiênciasThe fabrication of tandem solar cells requires a specific connectivity between layers, with specific characteristics such as the case of a tunnel junction that is made of two heavily doped narrow layers of different doping types (e.g. Phosphorus and Boron). When a certain amount of voltage is applied to the edges of the tunnel junction, the result is the alignment of both valence and conduction bands of the different subregions, enabling the electron flux from one cell to another without the need to energy variation of the electron. The Gas Immersion Laser Doping (GILD) technique uses a laser as the source of radiation and a dopant gas. A silicon wafer is inserted inside a compartment with a controlled atmosphere saturated with the doping gas, which receives energy from the laser as pulsed beams, melting and solidifying into a very fast process. When the melting occurs, the dopants penetrate the wafer and remain there upon solidification. When a high concentration of the dopant is confined inside an ultra-shallow depth of the wafer, the probability of forming a tunnel junction is increased. Therefore, before implementing this process, it is necessary to study the interaction between the laser and silicon samples. The purpose of this dissertation is to test and pre-select sample areas that were submitted to an infrared laser irradiation, varying on different sets of parameters, such has laser scan speed, number of scans, infrared transparent window type, among others. Samples will be evaluated regarding their topography, in terms of surface and in-depth melt homogeneity. These samples will be used as tests for the objective of the project in which this dissertation is inserted. The final goal of the project is thus to develop a process of tunnel junction formation with recurse to the GILD technique, using POCl3 as the dopant source and to create abrupt n++/p+ doping profiles (with 10 nm wide). The approach should lead to a scalable and low-cost industrial process for forming tunnel junctions directly integrated in tandem solar cells. Optical analysis of laser interaction on the silicon surface can be notable in slower laser scan speed for more than one successive scattering process. The results show an effective laser processed areas in a p-type Cz-Si wafer rather than in an emitter p++ on an p+ Cz-Si wafer. The chamber and the window that confines the sample in a controlled atmosphere affects positively the melting process when using a Quartz material rather than the Polycarbonate window.A evolução tecnológica tem permitido arranjar solução eficazes para combater a produção de energia à base de combustíveis fósseis. As energias renováveis estão a ser cada vez mais implementadas como fontes de conversão de energia primária para autoconsumo e distribuição na rede. A variabilidade e a inconstância que as fontes de energia renovável apresentam, devem ser colmatadas pontualmente por fontes alternativas ou convencionais de produção de energia, para garantir ao consumidor final de energia a sua utilização. Por definição, uma célula fotovoltaica é um dispositivo elétrico que é afetado pela exposição a certos tipos de radiação, resultando num diferencial em características como a corrente e a tensão. Baseia-se num efeito químico e físico, denominado por efeito fotovoltaico. Através da absorção de fotões por parte de um material semiconductor, ocorre a excitação dos seus eletrões e, consequentemente, a separação do respetivo átomo. É gerada uma diferença de potencial elétrico proporcionada pela separação das cargas. A radiação proveniente do sol é um recurso muito explorado atualmente, para produção de energia de fonte renovável. A irradiância espetral atinge valores máximos na região do infravermelho, permitindo correlacionar o grande destaque que o silício detém no mercado fotovoltaico, já que o intervalo de banda do mesmo encontra-se na região infravermelha, onde converte de forma eficiente grandes quantidades de radiação. O aproveitamento das restantes regiões do espetro solar deverá ser considerado para a implementação nas futuras células solares. O empilhamento de camadas de diferentes materiais, permite abranger uma maior banda de comprimento de onda. A célula de topo permite absorver intervalos de banda superiores, enquanto os fotões que não são absorvidos percorrem a junção até chegar à célula base, onde irá ocorrer a conversão de energia. Uma célula solar tandem como é o caso da perovskita/silício resulta numa célula mais eficiente em que são aproveitados os fotões de diferentes regiões do espetro solar. As células solares tandem são compostas por diferentes sub-células que têm intervalos de banda do espetro solar distintos. Permitem uma maior absorção de fotões pois abrangem um maior intervalo do comprimento de onda. A sua fabricação requer uma interligação complexa entre ambas as camadas denominadas por junção de túnel. Trata-se de uma região altamente dopada com duas camadas com concentração de dopantes distintos, como por exemplo Boro e Fósforo. Ambas as bandas de valência e condução das diferentes camadas alinham-se, possibilitando o fluxo de eletrões entre ambas sem necessidade de o fotão variar a sua energia. O silício é o material semiconductor mais utilizado para o fabrico de células solares. Consoante o seu grau de cristalinidade, poderá apresentar diferentes eficiências e consequentemente, custos, face à complexidade dos processos em que é submetido. A maioria dos módulos fotovoltaicos utilizados nas centrais são do tipo monocristalino, apresentando uma maior eficiência comparativamente às outras células de primeira geração. A eficiência da tecnologia fotovoltaica pode ser maximizada através de um processo denominado por dopagem. Ao introduzir impurezas em amostras, como por exemplo de silício, a conversão de energia é realizada de forma mais eficaz devido à alteração das propriedades elétricas. Dependendo da natureza das impurezas que serão inseridas nas amostras, será possível obter amostras do tipo p ou do tipo n. A alteração da cristalinidade de uma bolacha de silício afetará as ligações covalentes entre os átomos. A liberdade de movimento de um eletrão em amostras do tipo n, aumentará a condutividade e, consequentemente, a eficiência da célula num todo. A técnica GILD (Gas Immersion Laser Doping) é uma das alternativas para realizar processos de dopagem em silício. É utilizado um laser pulsado como fonte principal de radiação e uma atmosfera com um gás dopante. A amostra de silício permanece confinada num compartimento que possibilite criar uma atmosfera controlada com alta concentração de gás dopante. O laser pulsado incide na superfície da amostra proporcionando a fusão e solidificação intercalada, num processo extremamente rápido. Durante a fusão do silício, o dopante penetra a amostra, que permanece em profundidade quando ocorre a solidificação. Uma elevada concentração de dopante alocada numa camada ultra-fina, propicia a formação de uma junção de túnel. De forma a maximizar a eficácia da dopagem para o resultado pretendido, é fundamental analisar a interação entre o laser e o silício, e todos os fatores que estão associados. A técnica SEM (Scanning Electron Microscopy) é bastante utilizada para estudar a topografia de células após a interação direta com fontes de energia muito elevadas. Um feixe primário de eletrões é disparado diretamente na superfície da amostra que, após o contacto, resulta na emissão de eletrões secundários. Estes são armazenados e filtrados por um sistema de deteção que, consequentemente, irá correlacionar a variação na topografia da superfície amostral. O estudo da interação entre fontes de energia e amostras de silício é fundamental de modo a compreender a os fatores que possibilitam uma melhor homogeneidade superficial. O principal objetivo desta dissertação é testar, analisar e escolher as áreas amostrais que serão submetidas a um processo de irradiação recorrendo a um laser infravermelho, variando um conjunto de parâmetros, tais como, a velocidade de varrimento do laser, o número de repetições de cada ciclo de varrimento, o material que constitui a janela onde incide o laser, entre outros. Futuramente, as amostras que forem escolhidas, serão avaliadas relativamente à sua topografia, tanto em termos superficiais, como na fusão homogénea em profundidade. As amostras serão utilizadas como amostras teste para o objetivo do projeto em que esta dissertação se insere. O projeto tem a finalidade de desenvolver o processo de formação de junções de túnel pelo método de Gas Immersion Laser Doping utilizando como gás dopante o POCl3, de forma a criar uma camada ultra-fina e altamente dopada do tipo n (n++) através de toda a bolacha de silício. Um estudo preliminar acerca da interação entre laser e silício permite compreender de que maneira os vários fatores, tal como o tipo de equipamento, parâmetros e o tipo de amostra de silício utilizada, influenciam a homogeneidade do processo de fusão. Foram estudados e analisados os diferentes resultados comparando diretamente as várias variáveis. O material que constituía a janela onde incidia o laser, a velocidade de varrimento do pulso, a distância entre pontos focais (sucessivos e verticais) e a repetição do varrimento do laser, as diferentes amostras (emissor p++/p+ e bolacha p+, ambos de silício), foram comparados no âmbito desta dissertação. O processo de fabricação deverá conduzir a um método escalável e de baixo custo na produção industrial de junções de túnel para integrar nas células solares tandem. Numa análise microscópica das diferentes áreas amostrais é possível observar que a velocidade de varrimento do laser e o número de repetições dos ciclos de varrimento são as variáveis que mais influenciam na eficácia da fusão do silício. Em velocidades mais baixas do feixe do laser, é possível obter uma maior área cujo laser interagiu com sucesso. Mesmo que existam pequenas zonas escuras, a sucessiva repetição do processo resulta numa correção da zona não tratada. Num emissor sobre um wafer dopado (p++/p+) a interação do laser tornou-se numa fusão deficiente da superfície face à bolacha padrão (bolacha de silício tipo p). A grande concentração de boro na camada superior afeta negativamente a eficácia do processo de varrimento. A fusão homogénea do silício foi afetada positivamente quando utilizada uma janela de Quartzo como superfície transparente que permite a incidência do laser. Face à janela de policarbonato, os fatores óticos dos dois tipos de materiais, são notavelmente relevantes nos resultados obtidos

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