Η εξέλιξη των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων σε συνδυασμό με τους αυστηρούς χρονικούς
περιορισμούς καθιστούν την επαλήθευση της ορθής λειτουργίας των επεξεργαστών
μία εξαιρετικά απαιτητική διαδικασία. Με κριτήριο το στάδιο του κύκλου ζωής
ενός επεξεργαστή, από την στιγμή κατασκευής των πρωτοτύπων και έπειτα, οι
τεχνικές ελέγχου ορθής λειτουργίας διακρίνονται στις ακόλουθες κατηγορίες: (1)
Silicon Debug: Τα πρωτότυπα ολοκληρωμένα κυκλώματα ελέγχονται εξονυχιστικά, (2)
Manufacturing Testing: ο τελικό ποιοτικός έλεγχος και (3) In-field
verification: Περιλαμβάνει τεχνικές, οι οποίες διασφαλίζουν την λειτουργία του
επεξεργαστή σύμφωνα με τις προδιαγραφές του. Η διδακτορική διατριβή προτείνει
τα ακόλουθα: (1) Silicon Debug: Η εργασία αποσκοπεί στην επιτάχυνση της
διαδικασίας ανίχνευσης σφαλμάτων και στον αυτόματο εντοπισμό τυχαίων
προγραμμάτων που δεν περιέχουν νέα -χρήσιμη- πληροφορία σχετικά με την αίτια
ενός σφάλματος. Η κεντρική ιδέα αυτής της μεθόδου έγκειται στην αξιοποίηση της
έμφυτης ποικιλομορφίας των αρχιτεκτονικών συνόλου εντολών και στην δυνατότητα
από-διαμόρφωσης τμημάτων του κυκλώματος, (2) Manufacturing Testing: προτείνεται
μία μέθοδο για την βελτιστοποίηση του έλεγχου ορθής λειτουργίας των
πολυνηματικών και πολυπύρηνων επεξεργαστών μέσω της χρήση λογισμικού
αυτοδοκιμής, (3) Ιn-field verification: Αναλύθηκε σε βάθος η επίδραση που έχουν
τα μόνιμα σφάλματα σε μηχανισμούς αύξησης της απόδοσης. Επιπρόσθετα, προτάθηκαν
τεχνικές για την ανίχνευση και ανοχή μόνιμων σφαλμάτων υλικού σε μηχανισμούς
πρόβλεψης διακλάδωσης.Technology scaling, extreme chip integration and the compelling requirement to
diminish the time-to-market window, has rendered microprocessors more prone to
design bugs and hardware faults. Microprocessor validation is grouped into the
following categories, based on where they intervene in a microprocessor’s
lifecycle: (a) Silicon debug: the first hardware prototypes are exhaustively
validated, (b) Μanufacturing testing: the final quality control during massive
production, and (c) In-field verification: runtime error detection techniques
to guarantee correct operation. The contributions of this thesis are the
following: (1) Silicon debug: We propose the employment of deconfigurable
microprocessor architectures along with a technique to generate self-checking
random test programs to avoid the simulation step and triage the redundant
debug sessions, (2) Manufacturing testing: We propose a self-test optimization
strategy for multithreaded, multicore microprocessors to speedup test program
execution time and enhance the fault coverage of hard errors; and (3) In-field
verification: We measure the effect of permanent faults performance components.
Then, we propose a set of low-cost mechanisms for the detection, diagnosis and
performance recovery in the front-end speculative structures. This thesis
introduces various novel methodologies to address the validation challenges
posed throughout the life-cycle of a chip
