Dependence of minority charge carriers lifetime on point defects type and their concentration in single-crystal silicon

Authors
Publication date
1 January 2011
Publisher
НТК «Інститут монокристалів» НАН України

Abstract

Abstract is not available.

    Similar works

    Full text

    thumbnail-image

    Available Versions

    Наукова електронна бібліотека періодичних видань НАН України (Vernadsky National Library of Ukraine)

    redirect
    oaioai:dspace.nbuv.gov.ua:1234567...
    Last time updated on 18/06/2018