Analysis of reliability of selected machines and devices in the beer bottling line

Abstract

Celem pracy była analiza niezawodności linii rozlewniczej do piwa firmy KRONES. Linię tworzy trzydzieści jeden urządzeń. Na podstawie badań awaryjności linii w latach 2006-2009 wyznaczono wskaźniki niezawodności dla monobloku, etykieciarki i myjarki butelek. Przebieg wartości wskaźników niezawodności: współczynnik awaryjności, parametr strumienia uszkodzeń linii, średni czas postoju linii wskutek uszkodzeń, średni czas postoju linii między uszkodzeniami, współczynnik postoju linii, współczynnik gotowości linii - przedstawiono graficznie. Na podstawie uzyskanych wyników stwierdzono, że najsłabszym ogniwem linii jest monoblok. Ponadto dokonano analizy i sporządzono drzewa błędów monobloku, etykieciarki i myjarki butelek, co pozwala na otrzymanie minimalnych kombinacji zdarzeń pierwotnych, prowadzących do zajścia zdarzenia wierzchołkowego. Sporządzone drzewa błędów umożliwiają szybsze ustalenie przyczyn stanów niezdatności, co pozwala na skrócenie czasów postoju urządzenia i zwiększenie rzeczywistej zdolności przerobowej urządzenia.The objective of the paper was to analyse reliability of KRONES beer bottling line. The line is composed of thirty one devices. On the basis of failure frequency in 2006–2009 rates of reliability for monoblock, a labelling machine and a bottle washer were determined. The course of reliability rates value: failure frequency coefficient, parameter of line faults stream, average downtime of the line as a result of faults, average time of downtime of the line between faults, line downtime coefficient, line readiness coefficient were presented graphically. On the basis of the obtained results it was found that the monoblock is the weakest link. Moreover, analysis was carried out and fault trees of the monoblock, the labelling machine and the bottle washer were prepared, which allows obtaining the minimum combinations of original events leading to the vertical event. The prepared fault trees enable faster determination of the reasons of faults which allows shortening downtimes of the device and decreasing actual output capacity of the device