„Verfahren zur Bestimmung einer Ankunftszeit eines eine physikalische Meßgröße repräsentierenden, digitalisierten Signalpulses, Auswerteeinheit, Vorrichtung, Auswertsystem und Strahlendetektionssystem"

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung einer Ankunftszeit (t) eines eine physikalische Messgröße repräsentierenden, digitalisierten Signalpulses (P), wobei- bestimmt wird, welche Form die steigende Flanke (F) des Signalpulses (P) aufweist, wobei die Form ausgewählt wird aus der Gruppe umfassend- einen zumindest im Wesentlichen linearen Anstieg,- einen nichtlinearen Anstieg ohne Wendepunkt (pi) und- einen S-ähnlichen nichtlinearen Anstieg mit wenigstens einem Wendepunkt (pi),- in allen drei Fällen eine Differenz zwischen dem Zeitpunkt (t) des ersten Abtastpunktes (s) des Signalpulses (P) und der Ankunftszeit (t) des Signalpulses (P) berechnet wird über die Gleichung- unter Berücksichtigung des erhaltenen Wertes für Δt die Ankunftszeit (t) des Signalpulses (P) berechnet wird.Darüber hinaus betrifft die Erfindung eine Auswerteeinheit und eine Vorrichtung zur Bestimmung einer Ankunftszeit von eine physikalische Messgröße repräsentierenden Signalpulsen, ein Auswertesystem und ein Strahlendetektionssystem