A low-temperature X-ray diffraction study of the Cu2ZnSnSe4 thin films = Низкотемпературное рентгеноструктурное исследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4

Abstract

Low-temperature XRD measurements were performed to confirm the phase composition and structural parameters of the electrochemically deposited Cu2ZnSnSe4 thin films on flexible metal substrates. Для подтверждения фазового состава и структурных параметров электрохимических осажденных тонких пленок Cu2ZnSnSe4 на гибких металлических подложках были проведены низкотемпературные рентгенодифракционные измерения