Путем совместного использования методов электростатической силовой микроскопии и проводящей атомно-силовой микроскопии разработана методика определения электрофизических параметров индивидуальных многостенных углеродных нанотрубок.Based on a combination of electrostatic force microscopy and conductive atomic force microscopy, the technique for determining the electrical parameters of individual multiwalled carbon nanotubes was developed
