3 research outputs found

    Simulation of the Optical Properties of Multilayer Structures Containing Layers of Porous Silicon and Optical Coatings

    No full text
    ΠœΠΎΠ΄Π΅Π»ΠΈΡ€ΡƒΡŽΡ‚ΡΡ оптичСскиС процСссы отраТСния ΠΈ пропускания Π² многослойной структурС, содСрТащСй слои пористого крСмния ΠΈ оптичСскиС покрытия. Показано, Ρ‡Ρ‚ΠΎ использованиС пористого крСмния ΠΈ ΠΏΠ»Π΅Π½ΠΎΠΊ Ρ„Ρ‚ΠΎΡ€ΠΈΠ΄Π° диспрозия ΠΈ ΡΡƒΠ»ΡŒΡ„ΠΈΠ΄Π° Ρ†ΠΈΠ½ΠΊΠ° ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π·Π½Π°Ρ‡ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎ ΡƒΠ»ΡƒΡ‡ΡˆΠΈΡ‚ΡŒ основныС оптичСскиС характСристики ΡΠ²Π΅Ρ‚ΠΎΡ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ структуры. Optical processes of reflection and transmission in a multilayer structure containing layers of porous silicon and optical coatings are modelled. It is shown that the use of porous silicon and films of dysprosium fluoride and zinc sulphide can significantly improve the basic optical characteristics of the photosensitive structure

    The influence of technological parameters on the optical properties of photosensitive structures based on porous silicon

    No full text
    ΠœΡ‹ ΠΈΠ·ΡƒΡ‡Π°Π΅ΠΌ Ρ„ΠΎΡ‚ΠΎΡ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ структуры, содСрТащиС слои пористого крСмния, ΠΈΠ·Π³ΠΎΡ‚ΠΎΠ²Π»Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ ΠΏΠΎ Ρ€Π°Π·Π»ΠΈΡ‡Π½Ρ‹ΠΌ тСхнологичСским ΠΌΠ°Ρ€ΡˆΡ€ΡƒΡ‚Π°ΠΌ. Π˜ΡΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Π½Ρ‹ ΡΠΏΠ΅ΠΊΡ‚Ρ€Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ характСристики коэффициСнта отраТСния структур с пористым слоСм ΠΈ ΠΈΡ… Ρ„ΠΎΡ‚ΠΎΡ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ. Показано влияниС Π΄ΠΈΡ„Ρ„ΡƒΠ·ΠΈΠΈ Π½Π° оптичСскиС свойства структур. We study photosensitive structures containing porous silicon layers made on different technological routes. The spectral characteristics of the reflection coefficient of structures with a porous layer and their photosensitivity are investigated. The effect of diffusion on the optical properties of structures

    Simulation of the Pore Formation Process on Silicon Wafers with a Textured Surface

    No full text
    Π’ Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‚Π΅ прСдставлСно исслСдованиС ΠΌΠ΅Ρ…Π°Π½ΠΈΠ·ΠΌΠ° порообразования Π½Π° ΠΊΡ€Π΅ΠΌΠ½ΠΈΠ΅Π²Ρ‹Ρ… пластинах (100) с тСкстурированной ΠΏΠΎΠ²Π΅Ρ€Ρ…Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒΡŽ p-Ρ‚ΠΈΠΏΠ° проводимости ΠΈ ΡƒΠ΄Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΌ сопротивлСниСм 5 Ом см ΠΏΡ€ΠΈ элСктролитичСском Ρ‚Ρ€Π°Π²Π»Π΅Π½ΠΈΠΈ Π² Π³Π°Π»ΡŒΠ²Π°Π½ΠΎΡΡ‚Π°Ρ‚ΠΈΡ‡Π΅ΡΠΊΠΎΠΌ Ρ€Π΅ΠΆΠΈΠΌΠ΅ Π² растворах ΠΏΠ»Π°Π²ΠΈΠΊΠΎΠ²ΠΎΠΉ кислоты Π² ΡΠΎΠΎΡ‚Π½ΠΎΡˆΠ΅Π½ΠΈΠΈ HF:C2H5OH (1:1). Π£Ρ‡Ρ‚Π΅Π½ΠΎ влияниС элСктричСского поля Π½Π° процСсс формирования пористых структур. ΠŸΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½ΠΎ ΡΠΊΡΠΏΠ΅Ρ€ΠΈΠΌΠ΅Π½Ρ‚Π°Π»ΡŒΠ½ΠΎΠ΅ согласованиС ΠΌΠΎΠ΄Π΅Π»ΠΈ распрСдСлСния поля Π² элСктролитС ΠΈ распрСдСлСния ΡƒΠ΄Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠ³ΠΎ сопротивлСния ΠΏΠΎ повСрхности ΠΊΡ€Π΅ΠΌΠ½ΠΈΠ΅Π²ΠΎΠΉ пластины. ΠŸΠΎΠ΄Ρ‚Π²Π΅Ρ€ΠΆΠ΄Π΅Π½ΠΎ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠ΅ ΠΏΠΎΡ€ начинаСтся ΠΈ продолТаСтся ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ стыками ΠΏΠΈΡ€Π°ΠΌΠΈΠ΄, Ρ‚.Π΅. Π² областях Π½Π° повСрхности с максимальной Π½Π°ΠΏΡ€ΡΠΆΠ΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒΡŽ поля. In this work, we received a map of the distribution of the potential field of the surface layer during the electrochemical etching of silicon. A comparison was made of the field distribution in cells with different types: horizontal and vertical. The rate and direction of electrolyte, flowing though the pores of different forms, is shown
    corecore