高电荷态离子Arq+与Nb作用产生的X射线谱

利用光谱技术在超导离子源SECRAL上研究了10~20keV·q的Arq+(q=16,17)离子入射在金属Nb表面产生的X射线谱.实验结果表明,高电荷态Ar16+离子在金属表面中性化过程中存在着多电子激发,Ar16+的K壳层电子被激发产生空穴,级联退激发射Ar的Kα特征X射线.Ar空心原子的K层发射X射线的强度随入射离子的动能减弱,靶原子Nb的L层发射X射线强度随入射离子动能的增加而增强.Ar17+单离子的Kα-X射线产额比Ar16+单离子的Kα-X射线产额大3个数量级

用于高电荷态离子与表面相互作用研究的原子物理实验平台

在重离子加速器国家实验室ECR离子源上,成功组建了用于高电荷态离子与表面相互作用研究的原子物理实验平台;利用该实验平台,研究了用不同电荷态和不同速度的高电荷态离子与不同表面相互作用的可见光和X射线发射的情况,同时还研究了高电荷态Xe离子轰击晶体材料所引起的材料性质和表面结构变化的情况

α粒子轰击钍和铀引起的M亚壳层电离

本文研究2.5—4.5MeVα粒子轰击Th和U引起的M亚壳层电离。采用最小二乘法拟合实验谱求得N_(6,7)→M_5(M_α线),N_6→M_4(M_β线),N_5→M_3(M_γ线),N_4→M_2和N_2→M_1线的x射线产生截面。利用M壳层的辐射跃迁率,Coster—Kronig跃迁率和M亚壳层的荧光产额将x射线产生截面转换为M亚壳层电离截面。将实验所得的M亚壳层电离截面与PWBA和ECPSSR理论预言值进行比较,本文讨论了理论值与实验结果之间的偏差来源

经典过垒模型在Xe~(q+) +He碰撞中的应用

采用位置灵敏探测和飞行时间技术研究了高电荷态Xe离子 (q =15 ,17,19,2 1,2 3)与He原子碰撞中双电子转移截面与单俘获截面比随入射离子电荷态的变化规律。提出一步过程假定 ,对扩展的经典过垒(ECB)模型进行了修正 ,利用修正模型计算得到的单、双电子转移绝对截面与Andersson等人和Selberg等人的实验结果符合得很好 ,所得截面比与本实验得到的双电子转移截面与单电子俘获截面符合得比较好

等电荷态离子与He原子碰撞中的转移电离过程研究

采用位置灵敏探测和飞行时间技术测量了等电荷态离子Cq + 、Nq + 、Oq + 、Neq + (q =4 ,5 ,6 ,7)与He原子碰撞中 ,转移电离截面与单电子俘获截面的比值R。研究了相同 q入射的情况下 ,R与入射离子核电荷数Z的依赖关系 ,在统计蒸发模型的基础上对实验结果进行了解释

高电荷态Xe离子与He原子碰撞中的电子转移过程研究

采用位置灵敏探测和飞行时间技术研究了高电荷态Xe离子 (q =1 5 ,1 7,1 9,2 1 ,2 3)与He原子碰撞中双电子转移截面与单电子转移截面比随入射离子电荷态的变化规律 .提出一步过程假定 ,对扩展的经典过垒 (ECB)模型进行了修正 ,利用修正模型计算得到的单、双电子转移绝对截面与Andersson等人和Selberg等人的实验结果很好符合 ,所得截面比与本实验得到的双电子转移截面与单电子俘获截面比较好符

高电荷态离子入射Al表面库仑势对靶原子特征谱线强度的影响

用同一动能(150keV)而不同电荷态的40Arq+(8≤q≤16)离子入射金属Al表面,靶原子受激辐射产生特征光谱线.实验结果表明:高电荷态离子与金属表面相互作用过程中,经过与靶原子碰撞(Penning碰撞)交换动能和共振电子俘获(resonant capture)释放库仑势能,将携带的能量沉积于靶表面,使靶原子激发.这种激发不同于光激发,它不仅激发了原子复杂电子组态之间的跃迁,而且跃迁辐射的特征谱线强度增强的趋势与入射粒子的库仑势能随其电荷态增加的趋势一致

O~-离子单电子解离过程的研究

采用交叉束方法,利用兰州大学串列加速器的负离子源提供的4—19keV的O~-与惰性气体靶原子He、Ne、Ar碰撞,通过静电偏转和位置灵敏探测器区分碰撞后中性粒子束和负离子束,测量了不同碰撞系统的中性粒子计数与相应入射负离子计数的比值R(E),讨论了R(E)与入射负离子能量E和靶原子种类的依赖关系

Li~-和Na~-单电子解离过程的研究

采用交叉束方法 ,利用负离子源产生的 3— 19keV的Li- 和Na- 轰击惰性气体靶He ,Ne和Ar ,通过静电偏转和位置灵敏探测器区分碰撞后中性粒子束和负离子束 ,测量了不同碰撞系统的中性粒子计数与相应入射负离子计数的比值R(E) ,并得到R(E)与入射负离子能量、负离子种类和靶原子种类的关系

高电荷态离子与气体原子的碰撞

介绍了在兰州近代物理研究所的ＥＣＲ离子源上建的离子原子碰撞实验装置和高电荷态氩离子与气体原子分子碰撞的部分实验结果。甘肃省自然科学基金,国家自然科学基