3 research outputs found

    Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ ΠΊ ΠΌΠ΅Ρ‚Π°Π½Ρƒ Π½Π°Π½ΠΎΠΊΠΎΠΌΠΏΠΎΠ·ΠΈΡ‚Π½Ρ‹Ρ… слоСв SnO2(Ag) послС ΠΈΠΌΠΏΡƒΠ»ΡŒΡΠ½ΠΎΠ³ΠΎ Π»Π°Π·Π΅Ρ€Π½ΠΎΠ³ΠΎ облучСния

    Get PDF
    This paper reports on the gas sensitivity of SnO2(Ag) layers, consequently formed by magnetron sputtering of Sn + Ag target, oxidation of Sn0.65Ag0.35 layers at the temperature of 650 Β°Π‘ within 30 min and modified by laser radiation pulses at energy density of W = 1.5–3.2 J/cm2. Using transmission electron microscopy and transmission electron diffraction it was found, that Sn0.65Ag0.35 and SnO2(Ag) layers are nanocomposite with average grain size of 100–150 nm. Sn0.65Ag0.35 and SnO2(Ag) layers contain grains of the following phase composition: a tetragonal Ξ²-Sn with an orthorhombic Ag3Sn (Sn0.65Ag0.35, magnetron sputtering) and a tetragonal SnO2 (cassiterite) with a face-centered cubic Ag structure (SnO2(Ag), thermal oxidation). The sensitivity of SnO2(Ag) layers with respect to 2000–20 000 ppm methane in the air was obtained from sensitivity S measurements at T = 200–360 Β°C. It is shown that pulsed laser annealing of SnO2(Ag) layers results in up to 12 % increase of sensitivity of SnO2(Ag) layers to methane in comparison with the initial SnO2(Ag) layers.Β Π˜ΡΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Π½Ρ‹ Π³Π°Π·ΠΎΡ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ свойства слоСв SnO2(Ag), ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½Π½Ρ‹Ρ… ΠΏΠΎΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΌ ΠΌΠ°Π³Π½Π΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ½Π½Ρ‹ΠΌ распылСниСм мишСни Sn + Ag, окислСниСм слоСв Sn0,65Ag0,35 ΠΏΡ€ΠΈ Ρ‚Π΅ΠΌΠΏΠ΅Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€Π΅ 650Β Β°Π‘ Π² Ρ‚Π΅Ρ‡Π΅Π½ΠΈΠ΅ 30 ΠΌΠΈΠ½ ΠΈ ΠΌΠΎΠ΄ΠΈΡ„ΠΈΡ†ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… ΠΈΠΌΠΏΡƒΠ»ΡŒΡΠ°ΠΌΠΈ Π»Π°Π·Π΅Ρ€Π½ΠΎΠ³ΠΎ излучСния с ΠΏΠ»ΠΎΡ‚Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒΡŽ энСргии W = 1,5–3,2 Π”ΠΆ/см2. ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Π°ΠΌΠΈ ΠΏΡ€ΠΎΡΠ²Π΅Ρ‡ΠΈΠ²Π°ΡŽΡ‰Π΅ΠΉ элСктронной микроскопии ΠΈ ΠΏΡ€ΠΎΡΠ²Π΅Ρ‡ΠΈΠ²Π°ΡŽΡ‰Π΅ΠΉ элСктронной Π΄ΠΈΡ„Ρ€Π°ΠΊΡ†ΠΈΠΈ установлСно, Ρ‡Ρ‚ΠΎ слои Sn0,65Ag0,35 ΠΈ SnO2(Ag) ΡΠ²Π»ΡΡŽΡ‚ΡΡ Π½Π°Π½ΠΎΠΊΠΎΠΌΠΏΠΎΠ·ΠΈΡ‚Π½Ρ‹ΠΌΠΈ со срСдним Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€ΠΎΠΌ Π·Π΅Ρ€Π΅Π½ 100–150 Π½ΠΌ. Π’ зависимости ΠΎΡ‚ Ρ€Π΅ΠΆΠΈΠΌΠΎΠ² ΠΈΡ… получСния слои содСрТат Π·Π΅Ρ€Π½Π° с Ρ„Π°Π·ΠΎΠ²Ρ‹ΠΌ составом: Ρ‚Π΅Ρ‚Ρ€Π°Π³ΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Π°Ρ Ρ„Π°Π·Π° Ξ²-Sn с орторомбичСской Ρ„Π°Π·ΠΎΠΉ Ag3Sn (Sn0,65Ag0,35, ΠΌΠ°Π³Π½Π΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ½Π½ΠΎΠ΅ распылСниС) ΠΈ Ρ‚Π΅Ρ‚Ρ€Π°Π³ΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Π°Ρ Ρ„Π°Π·Π° SnO2 (касситСрит) с Π³Ρ€Π°Π½Π΅Ρ†Π΅Π½Ρ‚Ρ€ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π½ΠΎΠΉ кубичСской структурой Ag (SnO2(Ag), тСрмичСскоС окислСниС). Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ S слоСв SnO2(Ag) ΠΊ ΠΌΠ΅Ρ‚Π°Π½Ρƒ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»ΡΠ»Π°ΡΡŒ ΠΏΡ€ΠΈ T = 200–360 Β°C Π² атмосфСрС Π²ΠΎΠ·Π΄ΡƒΡ…Π° с содСрТаниСм ΠΌΠ΅Ρ‚Π°Π½Π° Π² Π΄ΠΈΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Π΅ CCH4 = 2000–20 000 ppm. Показано, Ρ‡Ρ‚ΠΎ ΠΈΠΌΠΏΡƒΠ»ΡŒΡΠ½Π°Ρ лазСрная ΠΎΠ±Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‚ΠΊΠ° ΠΏΡ€ΠΈΠ²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ ΠΊ ΡƒΠ²Π΅Π»ΠΈΡ‡Π΅Π½ΠΈΡŽ Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΠΈ S слоСв SnO2(Ag) ΠΊ ΠΌΠ΅Ρ‚Π°Π½Ρƒ Π΄ΠΎ 12 % ΠΏΠΎ ΡΡ€Π°Π²Π½Π΅Π½ΠΈΡŽ с исходными слоями SnO2(Ag).

    Π€ΠΎΡ€ΠΌΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠ΅ SiC ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ΠΎΠΌ Π²Π°ΠΊΡƒΡƒΠΌΠ½ΠΎΠΉ ΠΊΠ°Ρ€Π±ΠΈΠ΄ΠΈΠ·Π°Ρ†ΠΈΠΈ Π½Π° пористом ΠΊΡ€Π΅ΠΌΠ½ΠΈΠΈ

    Get PDF
    Planar-view TEM investigation revealed the formation of cubic silicon carbide layers on porous silicon by vacuum carbidization. The formation of cubic silicon layers in the form of a two-phase system was found. At the same time, the formed SiC layers on the mesoporous buffer layer are predominantly polycrystalline. Using the Rutherford backscattering method, it was found that the use of buffer layers of porous silicon makes it possible to obtain SiC layers of greater thickness than on a pure silicon substrate under similar conditions of vacuum carbidization. It is shown that an increase in the pore size in porous silicon layers leads to an increase in the thickness of the formed SiC layers. It has been shown by scanning electron microscopy that vacuum carbideization of porous silicon leads to formation of SiC grains in pores, partial overgrowth and sintering of pores. The dependence of the SiC grain size on the pore size was established.ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Π°ΠΌΠΈ ΠΏΡ€ΠΎΡΠ²Π΅Ρ‡ΠΈΠ²Π°ΡŽΡ‰Π΅ΠΉ элСктронной микроскопии установлСно, Ρ‡Ρ‚ΠΎ вакуумная карбидизация пористого крСмния ΠΏΡ€ΠΈ 1100 Β°C ΠΏΡ€ΠΈΠ²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ ΠΊ Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ слоСв кубичСского ΠΊΠ°Ρ€Π±ΠΈΠ΄Π° крСмния. ΠžΠ±Π½Π°Ρ€ΡƒΠΆΠ΅Π½ΠΎ Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠ΅ слоСв кубичСского SiC Π² Π²ΠΈΠ΄Π΅ Π΄Π²ΡƒΡ…Ρ„Π°Π·Π½ΠΎΠΉ систСмы. ΠŸΡ€ΠΈ этом сформированныС слои SiC Π½Π° мСзопористом Π±ΡƒΡ„Π΅Ρ€Π½ΠΎΠΌ слоС ΡΠ²Π»ΡΡŽΡ‚ΡΡ прСимущСствСнно поликристалличСскими. ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ΠΎΠΌ рСзСрфордовского ΠΎΠ±Ρ€Π°Ρ‚Π½ΠΎΠ³ΠΎ рассСяния установлСно, Ρ‡Ρ‚ΠΎ использованиС Π±ΡƒΡ„Π΅Ρ€Π½Ρ‹Ρ… слоСв пористого крСмния позволяСт ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π°Ρ‚ΡŒ слои SiC большСй Ρ‚ΠΎΠ»Ρ‰ΠΈΠ½Ρ‹, Ρ‡Π΅ΠΌ Π½Π° чистой ΠΊΡ€Π΅ΠΌΠ½ΠΈΠ΅Π²ΠΎΠΉ ΠΏΠΎΠ΄Π»ΠΎΠΆΠΊΠ΅ ΠΏΡ€ΠΈ Π°Π½Π°Π»ΠΎΠ³ΠΈΡ‡Π½Ρ‹Ρ… условиях Π²Π°ΠΊΡƒΡƒΠΌΠ½ΠΎΠΉ ΠΊΠ°Ρ€Π±ΠΈΠ΄ΠΈΠ·Π°Ρ†ΠΈΠΈ. Показано, Ρ‡Ρ‚ΠΎ ΡƒΠ²Π΅Π»ΠΈΡ‡Π΅Π½ΠΈΠ΅ Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Π° ΠΏΠΎΡ€ Π² слоях пористого крСмния ΠΏΡ€ΠΈΠ²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ ΠΊ ΡƒΠ²Π΅Π»ΠΈΡ‡Π΅Π½ΠΈΡŽ Ρ‚ΠΎΠ»Ρ‰ΠΈΠ½Ρ‹ Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠΈΡ€ΡƒΠ΅ΠΌΡ‹Ρ… слоСв SiC. Π‘ ΠΏΠΎΠΌΠΎΡ‰ΡŒΡŽ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Π° растровой элСктронной микроскопии ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΎ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ вакуумная карбидизация пористого крСмния ΠΏΡ€ΠΈΠ²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ ΠΊ Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ Π·Π΅Ρ€Π΅Π½ SiC Π² ΠΏΠΎΡ€Π°Ρ…, частичному Π·Π°Ρ€Π°ΡΡ‚Π°Π½ΠΈΡŽ ΠΈ спСканию ΠΏΠΎΡ€. УстановлСна Π·Π°Π²ΠΈΡΠΈΠΌΠΎΡΡ‚ΡŒ Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Π° Π·Π΅Ρ€Π΅Π½ SiC ΠΎΡ‚ Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Π° ΠΏΠΎΡ€.
    corecore